- 類型:
- 激光粒度儀
顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示,立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規則的礦物顆粒,可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。實驗室常用的測定物料粒度組成的方法有篩析法、水析法和顯微鏡法。①篩析法,用于測定 250~0.038mm的物料粒度。實驗室標準套篩的測定范圍為6~0.038mm;②水析法,以顆粒在水中的沉降速度確定顆粒的粒度,用于測定小于0.074mm物料的粒度;③顯微鏡法,能逐個測定顆粒的投影面積,以確定顆粒的粒度,光學顯微鏡的測定范圍為150~0.4μm,電子顯微鏡的測定下限粒度可達0.001μm或更小。 常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉積儀及X射線沉積儀等。
| WLP-208型平均粒度測定儀 |
| WLP-208A型平均粒度測定儀 |
| BT-9300S激光粒度分布儀 |
| BT-2001激光粒度分布儀 |
| Winner2308A激光粒度分析儀 |
| Winner2308B激光粒度分析儀 |
| Winner2308C激光粒度分析儀 |
| JL-1155型激光粒度分布測試儀 |
| JL-1166型激光粒度分布測試儀 |
| JL-1177型激光粒度分布測試儀 |
| JL-1178型激光粒度分布測試儀 |
| JL-1197型納米激光粒度分布測試儀 |
| JL-1198型納米激光粒度分布測試儀 |
| JL-6000型激光粒度分布測試儀 |
| JL-3000型噴霧激光粒度分布儀 |
| JL-3000型噴霧激光粒度分布儀 |
| JX-2000A型顆粒圖像分析儀 |
| JX-2000B型顆粒圖像分析儀 |
| GSL-101BL型激光顆粒分布測量儀 |
| GSL-101BLS型激光顆粒分布測量儀 |
| GSL-101BⅠ型激光顆粒分布測量儀 |
| GSL-101BII型激光顆粒分布測量儀 |







