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無(wú)鹵檢測(cè)儀_江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷(xiāo)售
目前XRF在氯的測(cè)試結(jié)果判定方面沒(méi)有一個(gè)專(zhuān)門(mén)的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行，而鹵素標(biāo)準(zhǔn)與rohs標(biāo)準(zhǔn)之間有很大的關(guān)聯(lián)，執(zhí)行rohs標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候?qū)Y(jié)果的判定是參考IEC62321文件來(lái)執(zhí)行的，所以目前大部分XRF廠商對(duì)于Cl的結(jié)果的判定也是參考IEC62321文件執(zhí)行，以下節(jié)選自IEC62321文件里面各元素的檢測(cè)結(jié)果的判斷方法。
各種類(lèi)型的XRF光譜儀單獨(dú)使用，分析方法允許使用者把樣品歸納為以下三類(lèi)的其中一類(lèi)：
a) “合格”－ 如果對(duì)所有的元素定量分析的結(jié)果全部小于表2所列的低限值，樣品經(jīng)過(guò)測(cè)試為合格。
b) “不合格”－ 如全部高于表2所列的高限值，樣品經(jīng)過(guò)測(cè)試為不合格。
c) “未決定”－ 如果對(duì)Hg、Pb或者Cd其中任何一種的元素定量分析的結(jié)果處于中間區(qū)域或者元素Br和Cr的結(jié)果高于表2所列的高限值，分析結(jié)果為未做決定。還必須要進(jìn)行進(jìn)一步的研究。這個(gè)檢測(cè)是“未決定”。
表2：各種基材中受限元素的篩選限值，單位（mg/kg）
元素 | 聚合物材料 | 金屬材料 | 電子元件 |
Cd | P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F | P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F | LOD≤X <（250＋3σ）≤F |
Pb | P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F | P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F | P≤（500－3σ）<X <（1500＋3σ）≤F |
Hg | P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F | P≤（700－3σ）<X <（1300＋3σ）≤F | P≤（500－3σ）<X <（500＋3σ）≤F |
Br | P≤（300－3σ）<X | P≤（250－3σ）<X | |
Cr | P≤（700－3σ）<X | P≤（700－3σ）<X | P≤（500－3σ）<X |
篩選限值已列于表2中。普通法定的對(duì)受關(guān)注物質(zhì)的限值已經(jīng)受到了相關(guān)的評(píng)估，但對(duì)此方法“執(zhí)行的水平”已經(jīng)為篩選過(guò)程定了容許30％（50％對(duì)于電子元件）安全極限值的偏差，這樣合格（P）或者不合格（F）的決定將會(huì)分別設(shè)定為少于和多于30％（50對(duì)于電子元件）的法定限值。極限值得到了很多做實(shí)驗(yàn)的和工廠的實(shí)踐人員的贊同。“X”符號(hào)表示這樣一個(gè)區(qū)域，在這個(gè)區(qū)域中的數(shù)值還需要進(jìn)一步的研究。
因此天瑞公司對(duì)于Cl元素的結(jié)果的判斷也是參考此文件得出如下的判斷方法。
元素 | 聚合物材料 | 金屬材料 | 電子元件 |
Cl | P≤（70－3σ）<X <（130＋3σ）≤F |
無(wú)鹵檢測(cè)儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)ROHS分析儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測(cè)厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測(cè)儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
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