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企業(yè)檔案

無錫創(chuàng)輝測量技術(shù)有限公司

免企業(yè)未認證證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式：工廠

所在地：江蘇省

主營產(chǎn)品：三坐標測量機三次元測量儀;三維尺寸測量;二次元影像測量儀2.5D影像儀;數(shù)字立式臥式投影儀;工具顯微鏡;二維測高儀二次元高度規(guī);金相體視顯微鏡;花崗巖大理石平臺;品管檢測設(shè)備;三坐標升級改造;測量軟件系統(tǒng);測量儀器維修校正改造;

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: 美國Thermo Scientific X-射線熒光能譜儀; 電議

: X-射線熒光光譜儀; 電議

: 數(shù)顯外徑千分尺，三豐量具，分厘卡，日本三豐產(chǎn)品; 電議

: 數(shù)顯外徑千分尺，三豐量具，分厘卡，日本三豐產(chǎn)品(圖); 電議

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美國Thermo Scientific X-射線熒光能譜儀的詳細信息

美國Thermo Scientific ARL QUANT'X X-射線熒光能譜儀：能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡易的樣品制備，實現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。先進的技術(shù)獨特的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測器數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)高性能、多元素分析主要功能出色的痕量分析靈敏度高分析量的進程控制適用于異常材料的分析算法出色的樣品處理靈活性機械簡化和靈活性占地面積小、易于運輸以進行野外測量快速、簡易的安裝以及可完全現(xiàn)場定制隨附完整的實驗室啟用套件經(jīng)驗證的硬件和全套軟件現(xiàn)場、協(xié)同方法開發(fā)完整的技術(shù)應(yīng)用支持匯集了數(shù)百種應(yīng)用的知識功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件無標和半無標分析基本參數(shù) (FP) 和基于標樣的經(jīng)驗方法多層厚度及成分不限元素、不限數(shù)量的標樣利用自動化操作實現(xiàn)多個激發(fā)條件可用于：懸浮顆粒物過濾器符合 RoHS 及 WEEE 的分析法醫(yī)及痕量分析營養(yǎng)補充劑磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體土壤污染過濾器上的薄膜塑料中的有毒元素