銷量2000臺！
　　飛納臺式掃描電鏡能譜版
　　——智能、、能譜電鏡一體化
　　放大倍數：20×-100，000×
　　分辨率：18nm
　　電子：1500小時CeB6燈絲
　　抽真空時間：10秒
　　加速電壓：5/10/15　kV　三檔
　　能譜儀EDS元素分析功能
　　拓展功能：3D粗糙度重建、纖維統計測量，拼圖等
　　Phenom　ProX（飛納臺式掃描電鏡能譜版）是Phenom第三代產品，結合了表面成像功能和元素分析能譜EDS功能，能譜儀　EDS的可以準確的進行樣品表面元素的定性和定量分析。
　　電鏡能譜一體化設計，簡潔小巧
　　Phenom　ProX　的能譜儀EDS是針對臺式電鏡設計的，本著臺式電鏡簡單易用，售后的宗旨，Phenom　ProX的能譜儀EDS　系統嵌入在電鏡主機中，利用半導體制冷，無需額外冷卻系統。下圖是傳統電鏡能譜儀系統與Phenom　ProX的對比圖
　　帶能譜儀D的傳統電鏡
　　Phenom　ProX
　　電鏡分辨率顯著
　　Phenom　Pro　100000倍
　　Phenom　ProX　100000倍
　　得到樣品表面形貌和元素含量
　　步：利用成像模式得到高分辨率的照片，背散射電子給出豐富的成份像，雜質一目了然
　　第二步：如果需要分析元素含量，切換到成份分析模式，點擊感興趣的區域，立刻給出定量定性分析元素名稱和含量分布
　　5kV，10kV，15kV　三檔加速電壓
　　Phenom　ProX提供三檔加速電壓，用戶可根據樣品類型和測試目的，靈活切換
　　5kV：血液緣體直接觀測模式
　　適合對電子束敏感的樣品
　　10kV：電路板分辨率模式
　　適合大部分樣品
　　15kV：電路板元素分析模式
　　X射線特征譜線更明顯
　　表面形貌和成分信息同時展現
　　背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可切換：
　　？成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
　　？形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析
　　成份模式
　　4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加
　　形貌模式
　　4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消
　　成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息
　　形貌模式圖像突出樣品表面形貌特征
　　直接觀看緣體，無需噴金
　　Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。
　　利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，
　　操作簡便，導航
　　？自動/手動聚焦
　　Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區域間進行切換。