濟南普業機電技術有限公司生產的GWB－200J引伸計標定儀，是一種純機械式的高位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

技術指標

1、測量引伸計標距范圍Ｌmax ：500㎜

2、測量支座上支臂安裝孔徑：φ10；φ28

3、微分測頭讀數內筒軸向刻度： 0.5㎜/格

4、微分測頭讀數內筒游標刻度：0.0002㎜/格

5、微分測頭讀數外筒園周刻度： 0.002㎜/格

6、微分測頭指標標定儀示值誤差：量程0.5㎜以內≤0.5μm 誤差

                           量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對誤差

參照標準：

  JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定JJG762-1992  引伸計檢定規程可進行0.5級引伸計的標定

結構特點及讀數方式

1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試需要，配置配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及螺紋付組成。其大量程25㎜；小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數為：L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)

其中：a－內筒毫米刻線讀數

    b－外筒刻線讀數c－游標刻線讀數

    a0 b0 c0　為相應位移變化前讀數